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ChipScope Pro 和串行 I/O 工具套件

ChipScope™ Pro 工具可在您的设计中直接插入逻辑分析器、系统分析器以及虚拟 I/O 小型软件内核,从而使您能够查看任意的内部信号或节点,包括嵌入式软硬处理器。系统以工作速度捕获信号,并通过编程接口输出,从而可大幅减少设计方案的引脚数。捕获到的信号随即通过 ChipScope Pro Analyzer 工具进行显示和分析。

此外,ChipScope Pro 工具还能通过 ATC2 软件内核与您的 Agilent Technologies 测试设备相连接。该内核能使 ChipScope Pro 工具和 Agilent 的 FPGA 动态探头插件选项保持同步。Xilinx 与 Agilent 独特的合作伙伴关系使您能够在 FPGA 器件上使用更少的引脚来实现更深入的跟踪存储器、更快的时钟速度、更多的触发器选项以及系统级测量功能。

ChipScope Pro 串行 I/O 工具套件让您能够快速、轻松地实现高速 FPGA 设计中串行 I/O 通道的交互式设置和调试。ChipScope Pro 串行 I/O 工具套件使您能够进行多通道误码率 (BER) 测量,并实时调整高速串行收发器参数,同时还能保持串行 I/O 通道与系统其他部分的互动。

支持的器件系列

ChipScope Pro ChipScope Pro 串行 I/O 工具套件
Artix®-7
Zynq®-7000
Kintex®-7 FPGA (全部)
Virtex®-7 FPGA (全部)
Virtex-6 FPGA (全部)
Virtex-5 FPGA (全部)
Virtex-4 FPGA (全部)
Spartan®-6 FPGA (全部)
Spartan-3A/-3AN/-3A DSP/-3E/-3 FPGA (全部)
Kintex-7 FPGAs, Virtex-6 FPGA (LXT、SXT、HXT)
Virtex-7 FPGA
Virtex-5 FPGA (LXT 和 FXT)
Virtex-4 FPGA (FX)
Spartan-6 FPGA (LXT)
  • 全新发 RX 裕量分析工具充分利用 7 系列收发器中的眼图扫描功能,实现实时互动特性描述和信道质量优化或离线查看测试结果
  • 分析所有内部 FPGA 信号,其中包括嵌入式处理器系统总线等
  • 在设计输入过程中或综合之后,插入小型可配置软件内核
  • 所有 ChipScope Pro 核均通过 Xilinx CORE Generator™ 系统提供
  • 分析器触发与捕获功能的增强使重复测量变得简单易行
  • Virtex-5 与 Virtex-6 系统监控器控制台的增强功能使我们能够更轻松地获取片上温度、电压以及外部传感器数据
  • 无需重新实施设计即能更改探测点
  • 通过网络连接进行远程调试,从办公室到实验室,甚至是跨越全球
  • 将 ChipScope 内核插入及生成功能集成到 Project Navigator 与 PlanAhead 工具流程中
  • 利用 HDL(VHDL 和 Verilog)或约束文件直接添加调试探头
  • 轻松、快速地实现 FPGA 串行 I/O 通道的交互式设置和调试
  • 同时测量多个通道上的 BER
  • 在您的串行 I/O 通道与系统的其他部分进行交互的同时,实时调整高速串行收发器参数
  • 包括众多标准 ITU 标准模式等在内的内置模式生成器和检查器
  • 利用误码率测试器 (IBERT) 扫描测试区域 GUI
    • 内置的 IBERT 图形查看器能够扫描 Virtex-6 GTX/GTH FPGA 收发器的测试结果
    • 用于离线 IBERT 分析的独立图形查看器能够扫描Kintex-7 FPGA GTX、Virtex-7 FPGA GTX、Virtex-6 FPGA GTX/GTH、Spartan-6 FPGA GTP 及 Virtex-5 FPGA GTX 收发器的测试结果
  • 仅需 JTAG 端口即可访问您的开发板、而无需额外的引脚就能实现专用的高速串行调试或设置
  • 以2种不同的扫描算法支持 Kintex-7 GTX 、Virtex-7 GTX/GTH/GTZ 和 Artix-7 GTP RX 裕量分析工具
    • 2D 全面扫描:在“视线”范围内扫描所有垂直和水平偏移采样点
    • 1D Bathtub: 通过 0 垂直行偏移量扫描所有水平采样点