ATE 与 JTAG 工具

Xilinx 和第三方广泛的资料收集
自动测试设备 (ATE) 和边界扫描 (JTAG) 资源

从下述资源中进行选择:

支持 Xilinx 产品的第三方边界扫描(JTAG)工具

Acculogic, Inc. - 提供高速的边界扫描测试和ISP解决方案。

Asset InterTech - 先前是 Texas Instruments 的子公司,制造用于测试半导体、板和整个系统的边界扫描诊断和测试系统。

Corelis, Inc. - 提供全线的用于测试、JTAG 仿真、微处理器开发工具和 VXI 总线测试仪的边界扫描开发系统和软件工具。

Goepel Electronic - 是欧洲主要的边界扫描测试和软件解决方案供应商。

Intellitech Corporation - 提供全线的边界扫描解决方案。

JTAG Technologies - 通过边界扫描,在编程和测试的设计、制造和现场服务方面为用户提供完全产品周期支持的产品。

National Semiconductor - 具有广泛的边界扫描元器件,包括缓冲器,收发器,和控制器芯片解决方案,以及SCANEASE 软件开发工具。

Flynn Systems - 提供全面的,易于使用的onTAP 边界扫描测试软件,价格低于 $1000。支持 Xilinx JTAG 并行电缆,包括ATPG, JTAG仿真器, BSDL 语法检查程序和DFT分析工具。

Texas Instruments - 提供多种硅元器件和软件解决方案,包括 ASSET 和SCAN ENGINE 诊断工具。TI 仍保留了大量的1149.1 信息数据库

Universal Scan - 为实验室阶段的电路卡调试和测试提供价格合理的、直观的、易于使用的边界扫描(JTAG)工具。 使您能够在PC显示屏上实时的观察并控制工作链中每个扫描探针的工作。

XJTAG - 为您提供XJTAG 开发系统 30 天的免费评估。 XJTAG 采用可重复使用的脚本测试 JTAG 和非 JTAG 两种器件,加速您的开发。

ATE 供应商

Agilent 是世界范围的测试测量产品供应商和服务提供商,Agilent/Agilent 3070 II系列产品具有完整的板级测试功能.

Teradyne 是业界最大的半导体器件和 PCB 自动测试设备(ATE)供应商.

应用指南和设计文件

XAPP067:利用串行向量格式文件在自动测试设备(ATE)和第三方工具上对 XC9500 器件进行在系统编程(PDF)

XAPP104:快速 JTAG ISP 检查清单(PDF)

XAPP113:在 Agilent 3070 系列测试仪上加快 XC95216 和 XC95108 器件的擦除时间(PDF)

在 GenRad 测试仪上对 Xilinx CPLD 进行编程

用于验证空 XC9500 器件的串行矢量格式(SVF)与 JEDEC 文件(ZIP)

在 IFR 4200 系列测试仪上对 Xilinx XC9500 进行编程 | 文件用于PC

在 Teradyne Z1800 或频谱上对 Xilinx XC9500 进行编程 | 文件用于PC

在 Agilent 3070 测试仪上对 XC9500 CPLD 进行编程 | 文件用于PC、HP、Solaris 和 SunOS

 
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