Virtex-5 FPGA 的 DDR2 控制器接口 - 特性描述报告

本 DDR2 控制器接口特性测试报告包含一组在整个工艺、电压和温度（PVT）变化范围内从 ML561 板上测得的数据。在所有测试实例中，DDR2 接口参考设计的性能都超过了最高指标，并且为高性能应用提供了充足的设计余量。

跟 Xilinx 的其它所有存储器接口参考设计一样，DDR2 参考设计通过了所有硬件验证。虽然它包含在了存储器接口生成器（MIG）内，但还是可以通过下载获得。

在下列这些条件下对利用 Virtex®-5 FPGA 实现的 DDR2 控制器和接口进行了大量测试：

• 各个速度级别下的慢工艺拐点
• 电压变化：+/- 3%
• 温度变化：0-85 C
• 数据类型：PRBS 和 Hammer

用于 PVT 特性描述的 ML561 板和测试设备。

带有系统监视器的结温斜面截屏图。

DDR2 DIMM 写硬件测量（DQ）- 333MHz、低压、85 ºC。

如需全部特性测试报告或安排演示，敬请联系销售代表。