缺陷检测加速应用

缺陷检测加速应用是一种机器视觉应用,可使用 Vitis 视觉库功能自动检测缺陷(例如水果、PCB)以及在高速工厂管道中进行分类。

缺陷检测加速应用框图

特性:

  • 低延迟缺陷检测管道
  • 水果缺陷检测和分类
  • HDMI 或 DIsplayPort 输出
  • 用户可编程 Vitis 视觉库功能
  • 包含硬件设计的完整应用
常见问题解答

不,该应用不需要任何 FPGA 设计经验。

此应用由 AMD Xilinx 免费提供。

否,该应用已针对 OnSemi AR0144 进行了优化和测试。为了使该应用适应另一个传感器,您将必须更新设计并针对新传感器优化应用。

主要资料
使用自适应计算加速您的 AI 边缘解决方案
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机器人自适应计算
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