ECC 算法存在一个编码缺陷,它会漏掉 0 字节 0 位元的单位元错误,而且无法检测一些双位元错误情况。
奇偶校验计算中只有奇数部分经过测试,可针对通过/失败进行检测。当从支持 ECC 功能的 NAND 中读取数据时,在一些特定情况下寄存器中显示的结果是错误的。
影响: | 主要影响。共有三个方面,参见“影响详情”章节。该解决方法可显著降低发生疏忽错误的可能性。 |
规避措施: | 敬请查看解决方法详情。 |
受影响的配置: | 使用支持 ECC 功能 NAND 的系统。 |
受影响的器件修订版本: | 参考 (Xilinx Answer 47916) - Zynq-7000 SoC 芯片修订差异. |
影响详情
共有三个方面:
解决方法详情
提供一种软件解决方法应对第一方面的影响。 如果 0 字节的 0 位元出现单位元错误,则 ECC 寄存器值可返回。
更复杂的软件解决方法是手动读取存储在备用区域中的 ECC 奇偶校验数据,然后采用软件在无需硬件机制干预的情况下计算 ECC 结果。
ecc_fail = 0 和 ecc_correct = 1。该结果可识别 0 字节 0 位元的单位元错误。可通过读取寄存器值来识别该情况,并通过软件更正这种位元错误。
Answer Number | 问答标题 | 问题版本 | 已解决问题的版本 |
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47916 | Zynq-7000 AP SoC 器件:芯片修订差异 | N/A | N/A |
AR# 47519 | |
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日期 | 06/13/2018 |
状态 | Active |
Type | 设计咨询 |
器件 |