UPGRADE YOUR BROWSER

We have detected your current browser version is not the latest one. Xilinx.com uses the latest web technologies to bring you the best online experience possible. Please upgrade to a Xilinx.com supported browser:Chrome, Firefox, Internet Explorer 11, Safari. Thank you!

软错误缓解 (SEM) 内核

产品描述

软错误缓解 (SEM) IP 内核执行面向配置内存的 SEU 检测、校正和分类。作为 SEU 检测功能的一部分,该 IP 核采用 ICAP 和 FRAME_ECC 原语来进行时钟控制,并观察 CRC 回读。为实现 SEU 校正,IP 核可执行必要的操作以找到并纠正错误。就 SEU 分类而言,该 IP 核用 Xilinx 基本位 (Xilinx Essential Bit) 技术进一步提升系统的有效性。

SEM IP 核还通过将错误插入配置内存来执行 SEU 评估。错误插入特性可提供相应方法来评估和测试 SEU 缓解和 IP 核的纠错功能,而无需通过辐射效应机构进行昂贵的测试。


主要特性与优势

  • 支持 UltraScale 器件系列,使用高级芯片 ECC
  • 自动探测、纠正和分类 SEU
  • 支持错误插入,从而可对系统的各个方面进行评估
  • 包含一个具有 UART 通信支持的实例设计
  • 支持高达 200 MHz 的时钟频率

技术支持

特色技术文档

的页面